skip to main content
Ngôn ngữ:
Giới hạn tìm kiếm: Giới hạn tìm kiếm: Dạng tài nguyên Hiển thị kết quả với: Hiển thị kết quả với: Chỉ mục

Kết quả 1 - 20 của 108  trong Tất cả tài nguyên

Kết quả 1 2 3 4 5 next page
Chỉ hiển thị
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Multilayer‐Based Optics for High‐Brightness X‐ray Sources

Bajt, S. ; Chapman, H. N. ; Krzywinski, J. ; Nelson, A. J. ; Aquila, A. ; Barthelmess, M.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.46-51 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625301

Toàn văn sẵn có

2
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

High‐Energy Nanoscale‐Resolution X‐ray Microscopy Based on Refractive Optics on a Long Beamline

Snigireva, I. ; Vaughan, G. B. M. ; Snigirev, A.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.188-191 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625336

Toàn văn sẵn có

3
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Development of Computer Tomography System for the Soft X‐ray Microscope at Ritsumeikan University

Ohigashi, T. ; Fujii, H. ; Usui, K. ; Namba, H. ; Mizutani, H. ; Takemoto, K. ; Kihara, H.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.124-127 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625320

Toàn văn sẵn có

4
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Large‐Area Zone Plate Fabrication with Optical Lithography

Denbeaux, G.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.73-76 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625307

Toàn văn sẵn có

5
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Interrogation of EGFR‐Targeted Uptake of TiO 2 Nanoconjugates by X‐ray Fluorescence Microscopy

Yuan, Y. ; Paunesku, T. ; Arora, H. ; Ward, J. ; Vogt, S. ; Woloschak, G.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.423-426 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625393

Toàn văn sẵn có

6
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

The X‐ray Fluorescence Microscopy Beamline at the Australian Synchrotron

Paterson, D. ; de Jonge, M. D. ; Howard, D. L. ; Lewis, W. ; Mckinlay, J. ; Starritt, A. ; Kusel, M. ; Ryan, C. G. ; Kirkham, R. ; Moorhead, G. ; Siddons, D. P.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.219-222 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625343

Toàn văn sẵn có

7
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

X‐ray Microscopy Beamlines at SSRF—Present Status and Future Plan

Xu, H. ; Yu, X. ; Tai, R.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.52-56 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625302

Toàn văn sẵn có

8
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Soft X‐ray Microscopy of Green Cements

Monteiro, P. J. M. ; Mancio, M. ; Kirchheim, A. P. ; Chae, R. ; Ha, J. ; Fischer, P. ; Tyliszczak, T.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.351-356 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625376

Toàn văn sẵn có

9
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Soft X‐Ray Microscopy at HZB: Zone Plate Development and Imaging Using the Third Order of Diffraction

Rehbein, S. ; Guttmann, P. ; Werner, S. ; Schneider, G.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.32-37 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625298

Toàn văn sẵn có

10
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Hard X‐ray Fourier Transform Holography Using a Reference Scatterer Fabricated by Electron‐Beam‐Assisted Chemical‐Vapor Deposition

Suzuki, M. ; Kondo, Y. ; Isogami, S. ; Tsunoda, M. ; Takahashi, S. ; Ishio, S.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.293-296 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625362

Toàn văn sẵn có

11
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

The MicroAnalysis Toolkit: X‐ray Fluorescence Image Processing Software

Webb, S. M.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.196-199 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625338

Toàn văn sẵn có

12
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Long‐Working‐Distance Kirkpatrick‐Baez Mirrors for Hard X‐ray Beamlines at SPring‐8

Yumoto, H. ; Koyama, T. ; Hirata, K. ; Kawano, Y. ; Ueno, G. ; Nisawa, A. ; Hikima, T. ; Takeshita, S. ; Ohsumi, H. ; Ito, K. ; Tanaka, Y. ; Arima, T. ; Ohashi, H. ; Yamamoto, M. ; Goto, S.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.200-203 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625339

Toàn văn sẵn có

13
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Applications of Hard X‐ray Full‐Field Transmission X‐ray Microscopy at SSRL

Liu, Y. ; Andrews, J. C. ; Meirer, F. ; Mehta, A. ; Gil, S. Carrasco ; Sciau, P. ; Mester, Z. ; Pianetta, P.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.357-360 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625377

Toàn văn sẵn có

14
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Combined X‐ray Microfluorescence and Atomic Force Microscopy Studies of Mg Distribution in Whole Cells

Lagomarsino, S. ; Iotti, S. ; Farruggia, G. ; Trapani, V. ; Cedola, A. ; Fratini, M. ; Bukreeva, I. ; Mastrototaro, L. ; Notargiacomo, A. ; Mcnulty, I. ; Vogt, S. ; Kim, S. ; Legnini, D. ; Maier, J. A. M. ; Wolf, F.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.395-398 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625386

Toàn văn sẵn có

15
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Development of X‐ray Microscopy at IPOE

Zhu, J. ; Mu, B. ; Huang, Q. ; Huang, C. ; Yi, S. ; Zhang, Z. ; Wang, F. ; Wang, Z. ; Chen, L.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.204-207 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625340

Toàn văn sẵn có

16
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Synchronous (Lock‐in) Measurement Techniques for Magnetic Contrast Enhancement in STXM

Kaznatcheev, K. ; Bertwistle, D. ; Cheng, C. ; Zohar, S. ; Bailey, W. E.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.333-336 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625372

Toàn văn sẵn có

17
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

3D Chemical and Elemental Imaging by STXM Spectrotomography

Wang, J. ; Hitchcock, A. P. ; Karunakaran, C. ; Prange, A. ; Franz, B. ; Harkness, T. ; Lu, Y. ; Obst, M. ; Hormes, J.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.215-218 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625342

Toàn văn sẵn có

18
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Nanofabrication of Optical Elements for SXR and EUV Applications: Ion Beam Lithography as a New Approach

Lenz, J. ; Krupp, N. ; Wilhein, T. ; Irsen, S.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.104-107 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625315

Toàn văn sẵn có

19
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

The Soft X‐ray Spectromicroscopy Beamline at SSRF

Guo, Z. ; Tai, R. ; Wand, Y. ; Yan, R. ; Chen, M. ; Wu, Y. ; Chen, J. ; Xue, S. ; Xu, H.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.164-167 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625330

Toàn văn sẵn có

20
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Coherent Cone‐Beam X‐ray Microscopy

Harder, R. ; Xiao, X.

The 10th International Conference On X‐Ray Microscopy, Chicago, Illinois, (USA) (15–20 August 2010): AIP Conference Proceedings, 09 September 2011, Vol.1365(1), pp.429-432 [Tạp chí có phản biện]

ISBN: 978-0-7354-0925-5 ; ISSN: 0094-243X ; E-ISSN: 1551-7616 ; DOI: 10.1063/1.3625394

Toàn văn sẵn có

Kết quả 1 - 20 của 108  trong Tất cả tài nguyên

Kết quả 1 2 3 4 5 next page

Chủ đề của tôi

  1. Thiết lập

Refine Search Results

Mở rộng kết quả tìm kiếm

  1.   

Chỉ hiển thị

  1. Tạp chí có phản biện (107)

Gợi ý tìm kiếm

Bỏ qua truy vấn này và tìm kiếm mọi thứ

theo tác giả:

  1. Suzuki, Y
  2. Takeuchi, A
  3. Mcnulty, I
  4. Vogt, S.
  5. Uesugi, K.

Đang tìm Cơ sở dữ liệu bên ngoài...