skip to main content
Ngôn ngữ:
Giới hạn tìm kiếm: Giới hạn tìm kiếm: Dạng tài nguyên Hiển thị kết quả với: Hiển thị kết quả với: Chỉ mục
Lọc theo: Tác giả/ người sáng tác: Vanhellemont, J. xóa
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

1 MeV electron irradiation induced degradation of boron-doped strained Si 1− x Ge x layers

Vanhellemont, J. ; Trauwaert, M.-A. ; Poortmans, J. ; Caymax, M. ; Clauws, P.

Thin Solid Films, 1992, Vol.222(1), pp.166-172 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0040-6090 ; DOI: 10.1016/0040-6090(92)90061-F

Toàn văn sẵn có

Phiên bản sẵn có
2
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

EBIC study of recombination activity of oxygen precipitation related defects in si

Seifert, W. ; Kittler, M, ; Vanhellemont, J.

Materials Science & Engineering B, 1996, Vol.42(1), pp.260-264 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0921-5107 ; DOI: 10.1016/S0921-5107(96)01718-7

Toàn văn sẵn có

Phiên bản sẵn có
3
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Impact of the starting interstitial oxygen concentration on the electrical characteristics of electron irradiated Si junction diodes

Simoen, E. ; Dubuc, J.P. ; Vanhellemont, J. ; Claeys, C.

Materials Science & Engineering B, January 1996, Vol.36(1-3), pp.179-182 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0921-5107 ; DOI: 10.1016/0921-5107(95)01254-0

Toàn văn sẵn có

Phiên bản sẵn có
4
Impact of the starting interstitial oxygen concentration on the electrical characteristics of electron irradiated Si junction diodes
Material Type:
Chương sách
Thêm vào Góc nghiên cứu

Impact of the starting interstitial oxygen concentration on the electrical characteristics of electron irradiated Si junction diodes

Simoen, E. ; Dubuc, J.P. ; Vanhellemont, J. ; Claeys, C.

C,H,N and O in Si and Characterization and Simulation of Materials and Processes, pp.179-182

ISBN: 978-0-444-82413-4 ; ISBN: 978-0-444-56728-4 ; ISBN: 978-0-444-59633-8 ; DOI: 10.1016/B978-0-444-82413-4.50046-9

Toàn văn không sẵn có

5
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Influence of oxygen and carbon on the generation and annihilation of radiation defects in silicon

Trauwaert, M.-A. ; Vanhellemont, J. ; Maes, H.E. ; Van Bavel, A.-M. ; Langouche, G. ; Stesmans, A. ; Clauws, P.

Materials Science & Engineering B, January 1996, Vol.36(1-3), pp.196-199 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0921-5107 ; DOI: 10.1016/0921-5107(95)01269-9

Toàn văn sẵn có

Phiên bản sẵn có
6
Influence of oxygen and carbon on the generation and annihilation of radiation defects in silicon
Material Type:
Chương sách
Thêm vào Góc nghiên cứu

Influence of oxygen and carbon on the generation and annihilation of radiation defects in silicon

Trauwaert, M.-A. ; Vanhellemont, J. ; Maes, H.E. ; Van Bavel, A.-M. ; Langouche, G. ; Stesmans, A. ; Clauws, P.

C,H,N and O in Si and Characterization and Simulation of Materials and Processes, pp.196-199

ISBN: 978-0-444-82413-4 ; ISBN: 978-0-444-56728-4 ; ISBN: 978-0-444-59633-8 ; DOI: 10.1016/B978-0-444-82413-4.50050-0

Toàn văn không sẵn có

7
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Investigation of oxygen precipitation related crystal defects in processed silicon wafers by infrared light scattering tomography

Kissinger, G. ; Vanhellemont, J. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Richter, H.

Materials Science & Engineering B, January 1996, Vol.36(1-3), pp.225-229 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0921-5107 ; DOI: 10.1016/0921-5107(95)01371-7

Toàn văn sẵn có

Phiên bản sẵn có
8
Investigation of oxygen precipitation related crystal defects in processed silicon wafers by infrared light scattering tomography
Material Type:
Chương sách
Thêm vào Góc nghiên cứu

Investigation of oxygen precipitation related crystal defects in processed silicon wafers by infrared light scattering tomography

Kissinger, G. ; Vanhellemont, J. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Richter, H.

C,H,N and O in Si and Characterization and Simulation of Materials and Processes, pp.225-229

ISBN: 978-0-444-82413-4 ; ISBN: 978-0-444-56728-4 ; ISBN: 978-0-444-59633-8 ; DOI: 10.1016/B978-0-444-82413-4.50056-1

Toàn văn không sẵn có

9
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Irradiation induced lattice defects in Si 1−x Ge x devices and their effect on device performance

Ohyama, H. ; Vanhellemont, J. ; Takami, Y. ; Hayama, K. ; Sunaga, H. ; Poortmans, J. ; Caymax, M. ; Clauws, P.

Materials Science and Technology, 01 April 1995, Vol.11(4), p.429-435 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0267-0836 ; E-ISSN: 1743-2847 ; DOI: 10.1179/mst.1995.11.4.429

Toàn văn không sẵn có

Phiên bản sẵn có
10
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

On the relationship between the bulk recombination lifetime and the excess 1 f noise in silicon p-n junction diodes

Simoen, E ; Vanhellemont, J ; Claeys, C

Solid State Communications, 1996, Vol.98(11), pp.961-963 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0038-1098 ; DOI: 10.1016/0038-1098(96)00186-X

Toàn văn sẵn có

Phiên bản sẵn có
11
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Process- and irradiation-induced defects in silicon devices

Claeys, C. ; Simoen, E. ; Vanhellemont, J.

Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A, 1996, Vol.377(2), pp.244-257 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0168-9002 ; DOI: 10.1016/0168-9002(95)01402-0

Toàn văn sẵn có

Phiên bản sẵn có
12
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Proton irradiation effects in silicon junction diodes and charge-coupled-devices

Simoen, Eddy ; Vanhellemont, Jan ; Alaerts, Andre ; Claeys, Cor ; Gaubas, Eugenius ; Kaniava, Arvidas ; Ohyama, Hidenori ; Sunaga, H. ; Nahsiyama, I. ; Skorupa, Wolfgang

Radiation Physics and Chemistry, 1997, Vol.50(5), pp.417-422 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0969-806X ; DOI: 10.1016/S0969-806X(97)00066-2

Toàn văn sẵn có

Phiên bản sẵn có
13
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Recent progress in the understanding of crystallographic defects in silicon

Claeys, C. ; Vanhellemont, J.

Journal of Crystal Growth, 1993, Vol.126(1), pp.41-62 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0022-0248 ; DOI: 10.1016/0022-0248(93)90225-L

Toàn văn sẵn có

Phiên bản sẵn có

Chủ đề của tôi

  1. Thiết lập

Refine Search Results

Mở rộng kết quả tìm kiếm

  1.   

Lọc kết quả

Năm xuất bản 

Từ đến

Dạng tài nguyên 

  1. Bài báo  (10)
  2. Book Chapters  (3)
  3. Lựa chọn khác open sub menu

Gợi ý tìm kiếm

Bỏ qua truy vấn này và tìm kiếm mọi thứ

theo tác giả:

  1. Vanhellemont, J
  2. Claeys, C
  3. Simoen, E
  4. Clauws, P.
  5. Trauwaert, M.-A.

Đang tìm Cơ sở dữ liệu bên ngoài...