skip to main content
Ngôn ngữ:
Giới hạn tìm kiếm: Giới hạn tìm kiếm: Dạng tài nguyên Hiển thị kết quả với: Hiển thị kết quả với: Chỉ mục
Lọc theo: Tất cả các phiên bản xóa
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Beam profile measurement of ES-200 using secondary electron emission monitor

E Ebrahimi Basabi ; A H Feghhi ; M Nikhbakht ; M Shafiee

Iranian Journal of Physics Research, 01 September 2015, Vol.15(2), pp.253-258 [Tạp chí có phản biện]

Directory of Open Access Journals (DOAJ)

ISSN: 1682-6957

Toàn văn sẵn có

2
Beam profile measurement of ES-200 using secondary electron emission monitor
Material Type:
Bài báo
Thêm vào Góc nghiên cứu

Beam profile measurement of ES-200 using secondary electron emission monitor

Ebrahimi Basabi, E ; Feghhi, A H ; Nikhbakht, M ; Shafiee, M

Iranian Journal of Physics Research, 9/01/2015, Vol.15(2), pp.253-258 [Tạp chí có phản biện]

CrossRef

ISSN: 1682-6957 ; E-ISSN: 2345-3664 ; DOI: http://dx.doi.org/10.18869/acadpub.ijpr.15.2.253

Toàn văn sẵn có

Chủ đề của tôi

  1. Thiết lập

Refine Search Results

Mở rộng kết quả tìm kiếm

  1.   

Đang tìm Cơ sở dữ liệu bên ngoài...