skip to main content
Ngôn ngữ:
Giới hạn tìm kiếm: Giới hạn tìm kiếm: Dạng tài nguyên Hiển thị kết quả với: Hiển thị kết quả với: Chỉ mục

1 000 000 [degree]C/s thin film electrical heater: [ital In] [ital situ] resistivity measurements of Al and Ti/Si thin films during ultra rapid thermal annealing

Allen, L.H ; Ramanath, G ; Lai, S.L ; Ma, Z ; Lee, S ; Allman, D.D.J ; Fuchs, K.P

Applied Physics Letters; (United States), 24 January 1994, Vol.64:4 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0003-6951 ; E-ISSN: 1077-3118 ; DOI: 10.1063/1.111116

Toàn văn không sẵn có

Trích dẫn Trích dẫn bởi

Đang tìm Cơ sở dữ liệu bên ngoài...