skip to main content
Ngôn ngữ:
Giới hạn tìm kiếm: Giới hạn tìm kiếm: Dạng tài nguyên Hiển thị kết quả với: Hiển thị kết quả với: Chỉ mục

Wetting on smooth micropatterned defects

Debuisson, D ; Dufour, R ; Senez, V ; Arscott, S

Applied Physics Letters, 2011, Vol.99, pp.184101-1-3 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0003-6951 ; E-ISSN: 1077-3118 ; DOI: 10.1063/1.3657140

Toàn văn không sẵn có

Trích dẫn Trích dẫn bởi

Đang tìm Cơ sở dữ liệu bên ngoài...