skip to main content
Ngôn ngữ:
Giới hạn tìm kiếm: Giới hạn tìm kiếm: Dạng tài nguyên Hiển thị kết quả với: Hiển thị kết quả với: Chỉ mục

Determination of molecular orientation of [alpha]-sexithiophene on passivated Si(001) by means of optical reflectance spectroscopic methods

Toyoshima, H. ; Inoue, K. ; Hiraga, K. ; Ohno, S. ; Tanaka, M.

Surface Science, Oct, 2013, Vol.616, p.36(8) [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0039-6028

Toàn văn sẵn có

Trích dẫn Trích dẫn bởi

Đang tìm Cơ sở dữ liệu bên ngoài...