skip to main content
Ngôn ngữ:
Giới hạn tìm kiếm: Giới hạn tìm kiếm: Dạng tài nguyên Hiển thị kết quả với: Hiển thị kết quả với: Chỉ mục

Visualizing the electron scattering force in nanostructures

Tao, Chenggang ; Cullen, W G ; Williams, E D

Science (New York, N.Y.), 07 May 2010, Vol.328(5979), pp.736-40 [Tạp chí có phản biện]

E-ISSN: 1095-9203 ; PMID: 20448180 Version:1 ; DOI: 10.1126/science.1186648

Truy cập trực tuyến

Phiên bản sẵn có
Trích dẫn Trích dẫn bởi
  • Nhan đề:
    Visualizing the electron scattering force in nanostructures
  • Tác giả: Tao, Chenggang ; Cullen, W G ; Williams, E D
  • Chủ đề: Electron Scattering -- Observations ; Nanotechnology -- Research
  • Là 1 phần của: Science (New York, N.Y.), 07 May 2010, Vol.328(5979), pp.736-40
  • Mô tả: In nanoscale metal wires, electrical current can cause structural changes through electromigration, in which the momentum of electrons biases atomic motion, but the microscopic details are complex. Using in situ scanning tunneling microscopy, we examined the effects of thermally excited defects on the current-biased displacement of monatomic islands of radius 2 to 50 nanometers on single-crystal Ag(111). The islands move opposite to the current direction, with velocity varying inversely with radius. The force is thus in the same direction as electron flow and acts on atomic defect sites at the island edge. The unexpectedly large force on the boundary atoms can be decreased by over a factor of 10 by adding a mildly electron-withdrawing adsorbate, C60, which also modifies the step geometry. The low coordination of the identified scattering sites is the likely origin of the large force.
  • Ngôn ngữ: English
  • Số nhận dạng: E-ISSN: 1095-9203 ; PMID: 20448180 Version:1 ; DOI: 10.1126/science.1186648

Đang tìm Cơ sở dữ liệu bên ngoài...