skip to main content
Ngôn ngữ:
Giới hạn tìm kiếm: Giới hạn tìm kiếm: Dạng tài nguyên Hiển thị kết quả với: Hiển thị kết quả với: Chỉ mục

X-ray diffraction study of amorphous Al 77.5 Mn 22.5 and Al 56 Si 30 Mn 14 alloys

Matsubara, E. ; Harada, K. ; Waseda, Y. ; Chen, H. ; Inoue, A. ; Masumoto, T.

Journal of Materials Science, 1988, Vol.23(2), pp.753-756 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0022-2461 ; E-ISSN: 1573-4803 ; DOI: 10.1007/BF01174716

Toàn văn không sẵn có

Trích dẫn Trích dẫn bởi
  • Nhan đề:
    X-ray diffraction study of amorphous Al 77.5 Mn 22.5 and Al 56 Si 30 Mn 14 alloys
  • Tác giả: Matsubara, E. ; Harada, K. ; Waseda, Y. ; Chen, H. ; Inoue, A. ; Masumoto, T.
  • Chủ đề: X-ray Diffraction ; Specialty Metals Industry
  • Là 1 phần của: Journal of Materials Science, 1988, Vol.23(2), pp.753-756
  • Mô tả: The structure of amorphous sputtered Al 77.5 Mn 22.5 and as-spun Al 56 Si 30 Mn 14 alloys is investigated by X-ray diffraction. Some distinct features are observed in the intensity profile, i.e. a pronounced prepeak at Q = 16 nm −1 in both the alloys and a shoulder at the low- Q side in Al-Si-Mn. Also in the radial distribution functions, the first peak has a shoulder at the high- r side. This experimental evidence suggests the presence of a strong chemical short-range order persisting in the α phase.
  • Ngôn ngữ: English
  • Số nhận dạng: ISSN: 0022-2461 ; E-ISSN: 1573-4803 ; DOI: 10.1007/BF01174716

Đang tìm Cơ sở dữ liệu bên ngoài...