skip to main content
Ngôn ngữ:
Giới hạn tìm kiếm: Giới hạn tìm kiếm: Dạng tài nguyên Hiển thị kết quả với: Hiển thị kết quả với: Chỉ mục

Zr–Ti–Ni thin film metallic glass as a diffusion barrier between copper and silicon

Wang, Chih-Wei ; Yiu, Pakman ; Chu, Jinn ; Shek, Chan-Hung ; Hsueh, Chun-Hway

Journal of Materials Science, 2015, Vol.50(5), pp.2085-2092 [Tạp chí có phản biện]

ISSN: 0022-2461 ; E-ISSN: 1573-4803 ; DOI: 10.1007/s10853-014-8770-6

Toàn văn sẵn có

Trích dẫn Trích dẫn bởi

Đang tìm Cơ sở dữ liệu bên ngoài...